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薄層,固體材料介電導電特性量測系統
薄層,固體材料介電導電特性量測系統

DAK-TL2 薄層材(cai)料介電量測系統 用于評估表(biao)征(zheng)有(you)限厚度的固體(ti)和(he)半固體(ti)材料(0.1-10mm厚度(du))的(de)介電性能以及微量液體(10-50ml)的液體樣品。

該系統基于開放式同軸(zhou)探(tan)頭,并配備(bei)了用于(yu)自(zi)動(dong)測量樣品厚度和施(shi)加力(li)的電子設(she)備(bei),以實現高(gao)重復(fu)性(xing)測量。

例如:柔性材(cai)料(liao)、皮革(ge)、軟塑(su)料(liao)等等。

另可根(gen)據(ju)頻段范圍和測試材料的(de)大小與類型配置不同的(de)探(tan)頭

準確測(ce)量表征液體、固體、粉(fen)末和(he)半(ban)固體在(zai)4MHz~67GHz寬頻率(lv)范圍內的(de)相對介(jie)電常數(ε‘ε“)的實部和虛部。

提供高精度介電參數測量(介電(dian)常數(shu)、電(dian)導率、損耗角正(zheng)切)



DAK12-TL2

DAK3.5-TL2

DAK1.2E-TL2

頻率范圍

4MHz-600MHz

200MHz-20GHz

5GHz-67GHz

外導體內徑

12mm

3.5mm

1.2mm

法蘭(lan)直徑

48mm

18mm

18mm

壓力范(fan)圍(wei)

0-1000N

待測物要求(qiu)

固體:厚度0.1-10mm  平整度:N5級別(bie)        液體:10-50ml

量(liang)測精度與范圍

 重復性精度:±1%    εr:1-800       tan δ: 0.001-10

校準(zhun)依據

ILAC-MRAISO/IEC 17025 by Swiss   Accreditation Service(SCS 108)

應用場景

電子產(chan)品(pin)外殼、電子元件介電材(cai)料(liao)、小(xiao)型(xing)生(sheng)物樣本、圖層、基(ji)板、生(sheng)化(hua)樣品(pin)


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