?DAK-R是一種(zhong)創新的非破(po)壞性介電測量(liang)解決(jue)方案(an)，專為(wei)薄(bo)型(xing)低損耗基材(cai)（厚(hou)度(du)0.05–3 mm）設計。
?基于先進(jin)的(de)分體式諧振腔技術(shu)（SCR），與傳統諧振腔不同，DAK-R通過創(chuang)新(xin)腔體(ti)設計和(he)先進求解器，抑制了(le)(le)不(bu)必(bi)要的諧振，擴展了(le)(le)介(jie)電(dian)常數測量范圍，
并實現了同時在10 GHz、17 GHz、26 GHz、35 GHz和45 GHz頻(pin)率下的寬帶精確測(ce)量。
?符合IPC測試方法TM-650 2.5.5.13，DAK-R通(tong)過分析共振頻率和品質因數（Q），確定樣品的相對介電常數和損耗(hao)角(jiao)正切。
頻(pin)率(lv)范圍(wei) | 同時測量 10、17、26、35、45GHz |
空腔直徑&共振(zhen)腔長度 | 42mm & 30mm |
待(dai)測(ce)物要求 | 片狀固體：厚度0.05-3mm（可(ke)堆疊） 尺寸：≥60*60mm |
量測(ce)精度與(yu)范(fan)圍 | εr: ±1%， tan δ<0.0001 εr: 1–100 tan δ: 0.00001 - 0.01 |
校準依據 | ILAC-MRA（ISO/IEC ; 17025 by Swiss Accreditation Service(SCS 108）) |
應(ying)用場景 | 低損耗材質(zhi)，電(dian)子產品外殼、電(dian)子元件介(jie)電(dian)材料(liao)、涂層、基(ji)板(ban) |
